最新超高圧電子顕微鏡法による厚膜組織解析と高速その場観察

佐藤, 和久

まてりあ, 2024, 63(4), 236-242

アクセス数:62件（2025-06-06 06:27 集計）

固定URL: https://hdl.handle.net/11094/100854

閲覧可能ファイル 

ファイル フォーマット 利用条件 サイズ 閲覧回数 利用開始日 説明 information
MateriaJapan_63_4_236 pdf なし 26.2 MB 26 2025.04.01  

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

タイトル
最新超高圧電子顕微鏡法による厚膜組織解析と高速その場観察
著者
NRID
1000070314424 1000070314424
ORCID
0000-0001-9078-2541 0000-0001-9078-2541
researchmap permalink
read0158304 read0158304
Scopus Author ID
55552977400 55552977400
著者名
佐藤, 和久 ; サトウ, カズヒサ ; Sato, Kazuhisa
キーワード等
high-voltage electron microscopy
maximum usable thickness
crystal defects
threading dislocations
in-situ observation
cryo-electron microscopy
direct electron detection camera
内容
佐藤 和久, 最新超高圧電子顕微鏡法による厚膜組織解析と高速その場観察, まてりあ, 2024, 63 巻, 4 号, p. 236-242, https://doi.org/10.2320/materia.63.236
出版者
日本金属学会
Japan Institute of Metals
収録物名
まてりあ
Materia Japan
巻(号)
63(4)
ページ
236-242
刊行年月
2024-04-01
言語
日本語
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/100854
PISSN
13402625
eISSN
18845843
NCID
AN10433227
関連情報 (isIdenticalTo)
DOI (出版社版)
https://doi.org/10.2320/materia.63.236
アクセス権
open access
出版タイプ
Version of Record
カテゴリ
学術雑誌論文 Journal Article