半導体試料への電極付け

このアイテムのアクセス数:113件（2019-01-17 01:48 集計）

このアイテムへのリンクには次のURLをご利用ください:http://hdl.handle.net/11094/10742

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
ltc029-16	pdf	124 KB	102

著者版フラグ	publisher
NII資源タイプ	紀要論文
ローカル資源タイプ	紀要論文
dcmi資源タイプ	text
DCTERMS.bibliographicCitation	大阪大学低温センターだより.29 P.16-P.18
DC.title	半導体試料への電極付け
DC.creator	石田, 修一
DC.publisher	大阪大学低温センター
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	1980-01
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/10742
DC.description	技術ノート
citation_title	半導体試料への電極付け
citation_author	石田, 修一
citation_publisher	大阪大学低温センター
citation_language	日本語
citation_date	1980-01
citation_journal_title	大阪大学低温センターだより
citation_volume	29
citation_firstpage	16
citation_lastpage	18
citation_issn	03874419
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/10742