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(
2022-06-30
21:32 集計
)
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23836_要旨
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15
要旨/Abstract
23836_論文
pdf
12.1 MB
770
論文/Dissertation
論文情報
タイトル
低速イオンビームを利用するPIXE表面分析法に関する研究
タイトル (ヨミ)
テイソク イオンビーム ヲ リヨウ スル PIXE ヒョウメン ブンセキ ホウ ニ カンスル ケンキュウ
著者
加田, 渉
加田, 渉
著者 (ヨミ)
カダ, ワタル
キーワード等
低速イオン
PIXE
表面分析
斜入射測定
斜出射測定
著者所属研究科
工学
専攻
電気電子情報工学
学位名
博士(工学)
学位授与年月日
2010-03-23
学位授与機関
大阪大学
学位授与番号
14401甲第14255号
学位記番号
23836
URL
http://hdl.handle.net/11094/2017
言語
日本語
カテゴリ
博士論文 本文あり / 工学研究科 / 2009年度
博士論文 / 工学研究科 / 2009年度
論文詳細を表示
著者版フラグ
ETD
NII資源タイプ
学位論文
ローカル資源タイプ
博士論文 本文あり
博士論文
dcmi資源タイプ
text
DC.title
低速イオンビームを利用するPIXE表面分析法に関する研究
DC.creator
加田, 渉
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766
日本語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI
http://hdl.handle.net/11094/2017
DC.subject
低速イオン
PIXE
表面分析
斜入射測定
斜出射測定
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF
2010-03-23
citation_title
低速イオンビームを利用するPIXE表面分析法に関する研究
citation_author
加田, 渉
citation_language
日本語
citation_public_url
http://hdl.handle.net/11094/2017
citation_keywords
低速イオン
PIXE
表面分析
斜入射測定
斜出射測定
citation_date
2010-03-23