固定URL: https://hdl.handle.net/11094/2017

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ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明	information
23836_Abstract	pdf	なし	303 KB	90	2017.02.22	要旨/Abstract
23836_Dissertation	pdf	なし	12.1 MB	1,098	2012.09.22	論文/Dissertation

論文情報

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タイトル	低速イオンビームを利用するPIXE表面分析法に関する研究
	テイソク イオンビーム ヲ リヨウ スル PIXE ヒョウメン ブンセキ ホウ ニ カンスル ケンキュウ
著者	NRID 1000060589117 1000060589117 著者名 加田, 渉 ; カダ, ワタル
キーワード等	低速イオン
	PIXE
	表面分析
	斜入射測定
	斜出射測定
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	2010-03-23
学位授与機関	大阪大学
研究科	工学
専攻	電気電子情報工学
学位授与番号	甲第14255号
学位記番号	23836
言語	日本語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/2017
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	博士論文 本文あり / 工学研究科 / 2009年度
	博士論文 / 工学研究科 / 2009年度

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