コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査

齋藤, 晃; 吉田, 則裕; 松下, 誠; 井上, 克郎

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論文情報

タイトル	コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査
別タイトル	Investigation of Relationship between Code Clones and Defect Fixes by Considering Period of Code Existence
タイトル (ヨミ)	コード　ノ　セイゾン　キカン　ヲ　コウリョ　シタ　コード　クローン　ト　ケッカン　シュウセイ　ノ　カンケイ　チョウサ
著者	齋藤, 晃齋藤, 晃
	吉田, 則裕吉田, 則裕
	松下, 誠松下, 誠
	井上, 克郎井上, 克郎
著者の別表記	Saito, Akira
	Yoshida, Norihiro
	Matsushita, Makoto
	Inoue Katsuro
著者 (ヨミ)	サイトウ, アキラ
	ヨシダ, ノリヒロ
	マツシタ, マコト
	イノウエ, カツロウ
キーワード等	コードクローン
	リポジトリマイニング
	ソフトウェア進化
	Code Clone
	Repository Mining
	Software Evolution
抄録	これまでにコードクローンと欠陥修正の関係について様々な報告がある. 近年の研究においてコードクローンはソフトウェアの欠陥を引き起こす要因に当たらないという報告がされているが, この調査ではコードの生存期間について考慮していないという問題がある. そこで本稿では, コードの生存期間に着目してコードクローンが欠陥修正に含まれる割合の調査を行った. その結果, 生存期間が短いクローンの方が欠陥修正に多く含まれることが分かった.
抄録	Various reports exist on relationship between code clones and defects. Especially recent study said that code clones do not cause software defects. However, this study has a problem that the period of code existence is not considered. Consequently, we investigated what proportion of code clones included defect fixes by considering period of code existence. The result showed that defect fixes occurred more frequently in short-lived code clones than long-lived ones.
公開者	電子情報通信学会
公開者の別表記	The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
公開者 (ヨミ)	デンシ　ジョウホウ　ツウシン　ガッカイ
掲載誌名	電子情報通信学会技術研究報告. SS, ソフトウェアサイエンス
巻	110
号	227
開始ページ	19
終了ページ	24
刊行年月	2010-10-07
ISSN	09135685
NCID	AN10013287
URL	http://hdl.handle.net/11094/26647
権利情報	Copyright © 2010 IEICE
権利情報	本文データはCiNiiから複製したものである
言語	日本語
カテゴリ	学術雑誌論文 Journal Article

著者版フラグ	publisher
NII資源タイプ	学術雑誌論文
ローカル資源タイプ	学術雑誌論文
dcmi資源タイプ	text
DCTERMS.bibliographicCitation	電子情報通信学会技術研究報告. SS, ソフトウェアサイエンス.110(227) P.19-P.24
DC.title	コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査
DCTERMS.alternative	Investigation of Relationship between Code Clones and Defect Fixes by Considering Period of Code Existence
DC.creator	齋藤, 晃
	吉田, 則裕
	松下, 誠
	井上, 克郎
DC.creator	Saito, Akira
	Yoshida, Norihiro
	Matsushita, Makoto
	Inoue Katsuro
DC.publisher	電子情報通信学会
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2010-10-07
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/26647
DC.subject	コードクローン
	リポジトリマイニング
	ソフトウェア進化
	Code Clone
	Repository Mining
	Software Evolution
DCTERMS.abstract	これまでにコードクローンと欠陥修正の関係について様々な報告がある. 近年の研究においてコードクローンはソフトウェアの欠陥を引き起こす要因に当たらないという報告がされているが, この調査ではコードの生存期間について考慮していないという問題がある. そこで本稿では, コードの生存期間に着目してコードクローンが欠陥修正に含まれる割合の調査を行った. その結果, 生存期間が短いクローンの方が欠陥修正に多く含まれることが分かった.
DCTERMS.abstract	Various reports exist on relationship between code clones and defects. Especially recent study said that code clones do not cause software defects. However, this study has a problem that the period of code existence is not considered. Consequently, we investigated what proportion of code clones included defect fixes by considering period of code existence. The result showed that defect fixes occurred more frequently in short-lived code clones than long-lived ones.
DC.rights	Copyright © 2010 IEICE
DC.rights	本文データはCiNiiから複製したものである
citation_title	コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査
citation_author	齋藤, 晃
	吉田, 則裕
	松下, 誠
	井上, 克郎
citation_publisher	電子情報通信学会
citation_language	日本語
citation_date	2010-10-07
citation_journal_title	電子情報通信学会技術研究報告. SS, ソフトウェアサイエンス
citation_volume	110
citation_issue	227
citation_firstpage	19
citation_lastpage	24
citation_issn	09135685
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/26647
citation_keywords	コードクローン
	リポジトリマイニング
	ソフトウェア進化
	Code Clone
	Repository Mining
	Software Evolution

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