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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明
itr110_227_19	pdf	594 KB	36	2014.01.28

論文情報

タイトル	コードの生存期間を考慮したコードクローンと欠陥修正の関係調査
	Investigation of Relationship between Code Clones and Defect Fixes by Considering Period of Code Existence
	コード　ノ　セイゾン　キカン　ヲ　コウリョ　シタ　コード　クローン　ト　ケッカン　シュウセイ　ノ　カンケイ　チョウサ
著者	著者名 齋藤, 晃 サイトウ, アキラ Saito, Akira
	NRID 1000000582545 1000000582545 著者名 吉田, 則裕 ヨシダ, ノリヒロ Yoshida, Norihiro
	NRID 1000060304028 1000060304028 著者名 松下, 誠 マツシタ, マコト Matsushita, Makoto
	NRID 1000020168438 1000020168438 著者名 井上, 克郎 イノウエ, カツロウ Inoue, Katsuro
キーワード等	コードクローン
	リポジトリマイニング
	ソフトウェア進化
	Code Clone
	Repository Mining
	Software Evolution
抄録	これまでにコードクローンと欠陥修正の関係について様々な報告がある. 近年の研究においてコードクローンはソフトウェアの欠陥を引き起こす要因に当たらないという報告がされているが, この調査ではコードの生存期間について考慮していないという問題がある. そこで本稿では, コードの生存期間に着目してコードクローンが欠陥修正に含まれる割合の調査を行った. その結果, 生存期間が短いクローンの方が欠陥修正に多く含まれることが分かった.
	Various reports exist on relationship between code clones and defects. Especially recent study said that code clones do not cause software defects. However, this study has a problem that the period of code existence is not considered. Consequently, we investigated what proportion of code clones included defect fixes by considering period of code existence. The result showed that defect fixes occurred more frequently in short-lived code clones than long-lived ones.
出版者	電子情報通信学会
	The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
	デンシ　ジョウホウ　ツウシン　ガッカイ
収録物名	電子情報通信学会技術研究報告. SS, ソフトウェアサイエンス
巻	110
号	227
開始ページ	19
終了ページ	24
刊行年月	2010-10-07
言語	日本語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/26647
ISSN	09135685
NCID	AN10013287
アクセス権	open access
権利情報	Copyright © 2010 IEICE
	本文データはCiNiiから複製したものである
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	学術雑誌論文 Journal Article

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