このアイテムへのリンクには次のURLをご利用ください: https://hdl.handle.net/11094/3022

閲覧可能ファイル 

ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明
rsi_79_6_66102	pdf	なし	142 KB	341	2012.09.22

論文情報

ファイル出力

タイトル	Absolute calibration of imaging plate for GeV electrons
著者	著者名 Nakanii, N.
	NRID 1000080225614 1000080225614 著者名 Kondo, K.
	NRID 1000020397772 1000020397772 著者名 Yabuuchi, T.
	著者名 Tsuji, K.
	NRID 1000070171741 1000070171741 researchmap permalink read0014142 read0014142 Scopus Author ID 7406936777 7406936777 著者名 Tanaka, K. A.
	著者名 Suzuki, S.
	著者名 Asaka, T.
	著者名 Yanagida, K.
	著者名 Hanaki, H.
	著者名 Kobayashi, T.
	著者名 Makino, K.
	著者名 Yamane, T.
	著者名 Miyamoto, S.
	著者名 Horikawa, K.
内容	Copyright 2008 American Institute of Physics. This article may be downloaded for personal use only. Any other use requires prior permission of the author and the American Institute of Physics. The following article appeared in Review of Scientific Instruments, 79(6), 066102_1-066102_3, 2008 and may be found at http://dx.doi.org/10.1063/1.2940217
出版者	American Institute of Physics
収録物名	Review of Scientific Instruments
巻(号)	79(6)
ページ	066102
刊行年月	2008-06
言語	英語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/3022
PISSN	00346748
NCID	AA00817730
関連情報 (isIdenticalTo)	DOI (出版社版) https://doi.org/10.1063/1.2940217
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	学術雑誌論文 Journal Article

ホームへ戻る