Modulated photocarrier grating technique for diffusion length measurement in amorphous semiconductors

Hattori, K.; Koji, Y.; Fukuda, S. et al.

Journal of Applied Physics, 1993, 73(8), 3846-3851

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ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明	information
jap_73_8_3846	pdf	なし	777 KB	369	2012.09.22

タイトル	Modulated photocarrier grating technique for diffusion length measurement in amorphous semiconductors
著者	NRID 1000080228486 1000080228486 researchmap permalink read0013739 read0013739 著者名 Hattori, K.
	著者名 Koji, Y.
	著者名 Fukuda, S.
	著者名 Ma, W.
	NRID 1000090144443 1000090144443 著者名 Okamoto, H.
	NRID 1000010029407 1000010029407 著者名 Hamakawa, Y.
出版者	American Institute of Physics
収録物名	Journal of Applied Physics
巻(号)	73(8)
ページ	3846-3851
刊行年月	1993-04-15
言語	英語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/3183
PISSN	00218979
NCID	AA00693547
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	学術雑誌論文 Journal Article

資源タイプ	学術雑誌論文
ローカル資源タイプ	学術雑誌論文
DCMI資源タイプ	text
DCTERMS.bibliographicCitation	Journal of Applied Physics. 1993, 73(8), p. 3846-3851
DC.title	Modulated photocarrier grating technique for diffusion length measurement in amorphous semiconductors
DC.creator	Hattori, K.
	Koji, Y.
	Fukuda, S.
	Ma, W.
	Okamoto, H.
	Hamakawa, Y.
DC.publisher	American Institute of Physics
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DCTERMS.issued' scheme='DCTERMS.W3CDTF	1993-04-15
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citation_volume	73
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