Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements

Yajima, Takashi; Tanaka, Hirofumi; Matsumoto, Takuya et al.

Nanotechnology, 2007, 18(9), 1-5

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固定URL: https://hdl.handle.net/11094/3342

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Nanotechnol18_1	pdf	なし	225 KB	407	2012.09.22

タイトル	Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements
著者	著者名 Yajima, Takashi
	NRID 1000090373191 1000090373191 著者名 Tanaka, Hirofumi
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	著者名 Sugawara, Yoshitaka
	NRID 1000080169185 1000080169185 著者名 Ogawa, Takuji
出版者	Institute of Physics
収録物名	Nanotechnology
巻(号)	18(9)
ページ	1-5
刊行年月	2007-03
言語	英語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/3342
PISSN	09574484
NCID	AA10863359
関連情報 (isVersionOf)	DOI (出版社版) https://doi.org/10.1088/0957-4484/18/9/095501
アクセス権	open access
権利情報	Copyright: Institute of Physics
出版タイプ	Accepted Manuscript
カテゴリ	学術雑誌論文 Journal Article

資源タイプ	学術雑誌論文
ローカル資源タイプ	学術雑誌論文
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DCTERMS.bibliographicCitation	Nanotechnology. 2007, 18(9), p. 1-5
DC.title	Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements
DC.creator	Yajima, Takashi
	Tanaka, Hirofumi
	Matsumoto, Takuya
	Otsuka, Yoichi
	Sugawara, Yoshitaka
	Ogawa, Takuji
DC.publisher	Institute of Physics
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