Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
Nanotechnol18_1	pdf	225 KB	145

タイトル	Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements
著者	Yajima, Takashi Yajima, Takashi
	Tanaka, Hirofumi Tanaka, Hirofumi
	Matsumoto, Takuya Matsumoto, Takuya
	Otsuka, Yoichi Otsuka, Yoichi
	Sugawara, Yoshitaka Sugawara, Yoshitaka
	Ogawa, Takuji Ogawa, Takuji
公開者	Institute of Physics
掲載誌名	Nanotechnology
巻	18
号	9
開始ページ	1
終了ページ	5
刊行年月	2007-03
ISSN	09574484
NCID	AA10863359
DOI	info:doi/10.1088/0957-4484/18/9/095501
URL	http://hdl.handle.net/11094/3342
権利情報	Copyright: Institute of Physics
言語	英語

著者版フラグ	author
NII資源タイプ	学術雑誌論文
ローカル資源タイプ	学術雑誌論文
dcmi資源タイプ	text
DCTERMS.bibliographicCitation	Nanotechnology.18(9) P.1-P.5
DC.title	Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements
DC.creator	Yajima, Takashi
	Tanaka, Hirofumi
	Matsumoto, Takuya
	Otsuka, Yoichi
	Sugawara, Yoshitaka
	Ogawa, Takuji
DC.publisher	Institute of Physics
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	英語
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2007-03
DC.identifier	info:doi/10.1088/0957-4484/18/9/095501
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	Sugawara, Yoshitaka
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citation_issue	9
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citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/3342