このアイテムへのリンクには次のURLをご利用ください: https://hdl.handle.net/11094/3342

閲覧可能ファイル 

ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明
Nanotechnol18_1	pdf	なし	225 KB	335	2012.09.22

論文情報

ファイル出力

タイトル	Refinement of Conditions of Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy for Molecular-Scale Conduction Measurements
著者	著者名 Yajima, Takashi
	NRID 1000090373191 1000090373191 著者名 Tanaka, Hirofumi
	NRID 1000050229556 1000050229556 ORCID 0000-0002-9286-3115 0000-0002-9286-3115 researchmap permalink matsumototakuya matsumototakuya Scopus Author ID 7407959948 7407959948 著者名 Matsumoto, Takuya
	NRID 1000070756460 1000070756460 researchmap permalink yoichiotsuka yoichiotsuka Scopus Author ID 55181504000 55181504000 著者名 Otsuka, Yoichi
	著者名 Sugawara, Yoshitaka
	NRID 1000080169185 1000080169185 著者名 Ogawa, Takuji
出版者	Institute of Physics
収録物名	Nanotechnology
巻(号)	18(9)
ページ	1-5
刊行年月	2007-03
言語	英語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/3342
PISSN	09574484
NCID	AA10863359
関連情報 (isVersionOf)	DOI (出版社版) https://doi.org/10.1088/0957-4484/18/9/095501
アクセス権	open access
権利情報	Copyright: Institute of Physics
出版タイプ	Accepted Manuscript
カテゴリ	学術雑誌論文 Journal Article

ホームへ戻る