超高電圧電子顕微鏡法によるセラミックスの電子照射損傷の研究

乾, 晴行

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08158_Abstract pdf なし 239 KB 124 2014.05.29 要旨/Abstract  

論文情報

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タイトル
超高電圧電子顕微鏡法によるセラミックスの電子照射損傷の研究
著者
NRID
1000030213135 1000030213135
著者名
乾, 晴行 ; イヌイ, ハルユキ
学位名
工学博士
学位授与年月日
1988-03-25
学位授与機関
大阪大学
研究科
工学
専攻
金属材料工学
学位授与番号
甲第03748号
学位記番号
08158
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/35889
アクセス権
open access
カテゴリ
博士論文 / 工学研究科 / 1987年度
注記
著者からインターネット公開の許諾が得られていないため、論文の要旨のみを公開しています。全文のご利用をご希望の場合は、大阪大学の博士論文についてをご参照ください。
Only the abstract of the doctoral thesis, instead of the full text, is available because consent from the author has not been obtained. If you would like to read the full text, please refer to Doctoral Theses of Osaka University.