リフローモードぬれ性試験における微細電子材料のぬれ挙動の解析とぬれ性評価

安田, 清和

アクセス数:146件（2025-04-18 15:40 集計）

固定URL: https://hdl.handle.net/11094/42747

閲覧可能ファイル 

ファイル フォーマット 利用条件 サイズ 閲覧回数 利用開始日 説明 information
16385_Abstract pdf なし 330 KB 77 2014.06.20 要旨/Abstract  

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

タイトル
リフローモードぬれ性試験における微細電子材料のぬれ挙動の解析とぬれ性評価
著者
NRID
1000000210253 1000000210253
ORCID
0000-0003-4998-1316 0000-0003-4998-1316
researchmap permalink
kiyoyasuda kiyoyasuda
Scopus Author ID
7403377969 7403377969
著者名
安田, 清和 ; ヤスダ, キヨカズ
学位名
博士（工学）
学位授与年月日
2001-03-23
学位授与機関
大阪大学
学位授与番号
乙第08236号
学位記番号
16385
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/42747
アクセス権
open access
カテゴリ
博士論文 / その他 / 2000年度
注記
著者からインターネット公開の許諾が得られていないため、論文の要旨のみを公開しています。全文のご利用をご希望の場合は、大阪大学の博士論文についてをご参照ください。
Only the abstract of the doctoral thesis, instead of the full text, is available because consent from the author has not been obtained. If you would like to read the full text, please refer to Doctoral Theses of Osaka University.