表面分析における二次電子放出現象に関する研究

このアイテムのアクセス数:162件（2020-10-25 08:58 集計）

このアイテムへのリンクには次のURLをご利用ください:http://hdl.handle.net/11094/455

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
03080_要旨	pdf	101 KB	21	要旨/Abstract
03080_論文	pdf	5.39 MB	1,069	論文/Dissertation

タイトル	表面分析における二次電子放出現象に関する研究
タイトル (ヨミ)	ヒョウメンブンセキニオケルニジデンシホウシュツゲンショウニカンスルケンキュウ
著者	越川, 孝範越川, 孝範
著者 (ヨミ)	コシカワ, タカノリ
著者所属研究科	工学
専攻	応用物理学
学位名	工学博士
学位授与年月日	1974-03-25
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401甲第01688号
学位記番号	03080
URL	http://hdl.handle.net/11094/455
言語	日本語
カテゴリ	博士論文本文あり / 工学研究科 / 1973年度
カテゴリ	博士論文 / 工学研究科 / 1973年度

著者版フラグ	ETD
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	表面分析における二次電子放出現象に関する研究
DC.creator	越川, 孝範
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/455
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	1974-03-25
citation_title	表面分析における二次電子放出現象に関する研究
citation_author	越川, 孝範
citation_language	日本語
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/455
citation_date	1974-03-25