高精度品質保証期限モニタ回路

吉村, 隆治; 廣瀬, 哲也; 井戸, 徹 他

電子情報通信学会論文誌C, 2003, J86-C(9), 1041-1043

アクセス数:631件（2025-07-27 19:44 集計）

固定URL: https://hdl.handle.net/11094/51708

閲覧可能ファイル 

ファイル フォーマット 利用条件 サイズ 閲覧回数 利用開始日 説明 information
IEICETrans_CJ86-C_9_1041 pdf なし 429 KB 84 2015.05.28  

論文情報

ファイル出力 EndNote Basic出力 Mendeley出力

タイトル
高精度品質保証期限モニタ回路
High Precision CMOS Watch-Dog Circuit for Quality Guarantee Using Subthreshold Current
コウセイド　ヒンシツ　ホショウ　キゲン　モニタ　カイロ
著者
著者名
吉村, 隆治 ; ヨシムラ, リュウジ ; Yoshimura, Ryuji
NRID
1000070396315 1000070396315
researchmap permalink
hirose_tetsuya hirose_tetsuya
Scopus Author ID
9272478400 9272478400
ORCID
0000-0003-1997-5097 0000-0003-1997-5097
著者名
廣瀬, 哲也 ; ヒロセ, テツヤ ; Hirose, Tetsuya
著者名
井戸, 徹 ; イド, トオル ; Ido, Toru
NRID
1000080324820 1000080324820
ORCID
0000-0003-3876-2679 0000-0003-3876-2679
researchmap permalink
read0068628 read0068628
Scopus Author ID
7402741552 7402741552
著者名
松岡, 俊匡 ; マツオカ, トシマサ ; Matsuoka, Toshimasa
NRID
1000020192180 1000020192180
著者名
谷口, 研二 ; タニグチ, ケンジ ; Taniguchi, Kenji
キーワード等
MOSFET
弱反転領域
劣化度モニタ
品質保証期限
抄録
弱反転領域におけるMOSFETのドレーン電流をもとに物質の活性化エネルギーを擬似的に作りだしその物質の劣化度をモニタする回路を提案する．安価で低消費電力のCMOSプロセスを用いてあらゆる製品に付加して劣化度をモニタすることができることをシミュレーションにより確認した．
出版者
電子情報通信学会
The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
デンシ　ジョウホウ　ツウシン　ガッカイ
収録物名
電子情報通信学会論文誌C
巻(号)
J86-C(9)
ページ
1041-1043
刊行年月
2003-09
言語
日本語
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/51708
PISSN
13452827
NCID
AA11412446
関連情報 (references)
URI
https://search.ieice.org/
アクセス権
open access
権利情報
copyright©2003 IEICE
出版タイプ
Version of Record
カテゴリ
学術雑誌論文 Journal Article