Terahertz Device Characterization Based on Electro-optic Near-field Measurement

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
29810_Abstract	pdf	107 KB	60
29810_Dissertation	pdf	43.0 MB	100

タイトル	Terahertz Device Characterization Based on Electro-optic Near-field Measurement
別タイトル	電気光学近接場計測によるテラヘルツデバイスの特性評価
タイトル (ヨミ)	デンキコウガクキンセツバケイソクニヨルテラヘルツデバイスノトクセイヒョウカ
著者	NGUYEN PHAM, HAI HUY NGUYEN PHAM, HAI HUY
著者 (ヨミ)	グェン, ファム, ハイフィ
著者所属研究科	基礎工学
専攻	システム創成
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	2018-03-22
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401甲第19669号
学位記番号	29810
URL	http://hdl.handle.net/11094/69619
言語	英語
DOI	info:doi/10.18910/69619
カテゴリ	博士論文本文あり / 基礎工学研究科 / 2017年度
カテゴリ	博士論文 / 基礎工学研究科 / 2017年度

著者版フラグ	ETD
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	Terahertz Device Characterization Based on Electro-optic Near-field Measurement
DCTERMS.alternative	電気光学近接場計測によるテラヘルツデバイスの特性評価
DC.creator	NGUYEN PHAM, HAI HUY
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	英語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/69619
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2018-03-22
DC.identifier	info:doi/10.18910/69619
citation_title	Terahertz Device Characterization Based on Electro-optic Near-field Measurement
citation_author	NGUYEN PHAM, HAI HUY
citation_language	英語
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/69619
citation_date	2018-03-22
citation_doi	info:doi/10.18910/69619