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ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明	information
29810_Abstract	pdf	なし	107 KB	189	2018.05.30
29810_Dissertation	pdf	なし	43.0 MB	328	2018.05.30

論文情報

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タイトル	Terahertz Device Characterization Based on Electro-optic Near-field Measurement
	電気光学近接場計測によるテラヘルツデバイスの特性評価
	デンキコウガクキンセツバケイソクニヨルテラヘルツデバイスノトクセイヒョウカ
著者	著者名 Nguyen Pham, Hai Huy ; グェン ファム, ハイフィ
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	2018-03-22
学位授与機関	大阪大学
研究科	基礎工学
専攻	システム創成
学位授与番号	甲第19669号
学位記番号	29810
言語	英語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/69619
DOI	https://doi.org/10.18910/69619
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	博士論文 本文あり / 基礎工学研究科 / 2017年度
	博士論文 / 基礎工学研究科 / 2017年度

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