レーザー照射型熱画像法によるマイクロ欠陥検出プロセスに関する研究

岩田, 剛治

アクセス数:404件（2025-03-13 16:15 集計）

固定URL: https://doi.org/10.11501/3075115

ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明	information
11394_Abstract	pdf	なし	147 KB	146	2014.06.09	要旨/Abstract
11394_Dissertation	pdf	なし	82.8 MB	128	2012.09.22	論文/Dissertation

タイトル	レーザー照射型熱画像法によるマイクロ欠陥検出プロセスに関する研究
タイトル	レーザーショウシャガタネツガゾウホウニヨルマイクロケッカンケンシュツプロセスニカンスルケンキュウ
著者	NRID 1000030263205 1000030263205 researchmap permalink read0185254 read0185254 Scopus Author ID 7202730133 7202730133 著者名岩田, 剛治 ; イワタ, ヨシハル ; Iwata, Yoshiharu
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	1994-03-25
学位授与機関	大阪大学
研究科	工学
専攻	溶接工学
学位授与番号	甲第05076号
学位記番号	11394
言語	日本語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/81
DOI	https://doi.org/10.11501/3075115
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	博士論文本文あり / 工学研究科 / 1993年度
カテゴリ	博士論文 / 工学研究科 / 1993年度

資源タイプ	博士論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
DCMI資源タイプ	text
DCTERMS.bibliographicCitation	大阪大学, 1994, 博士論文
DC.title	レーザー照射型熱画像法によるマイクロ欠陥検出プロセスに関する研究
DC.title	レーザーショウシャガタネツガゾウホウニヨルマイクロケッカンケンシュツプロセスニカンスルケンキュウ
DC.creator	岩田, 剛治
	イワタ, ヨシハル
	Iwata, Yoshiharu
DC.language' scheme='DCTERMS.RFC1766	日本語
DC.type' scheme='DCTERMS.DCMIType	text
DCTERMS.issued' scheme='DCTERMS.W3CDTF	1994-03-25
DC.identifier	10.11501/3075115
DC.format	81
citation_title	レーザー照射型熱画像法によるマイクロ欠陥検出プロセスに関する研究
citation_author	岩田, 剛治
citation_language	日本語
citation_public_url	https://hdl.handle.net/11094/81
citation_date	1994-03-25
citation_doi_detail	10.11501/3075115
citation_doi	https://doi.org/10.11501/3075115