走査型トンネル顕微鏡を使って半導体微細加工を観察する

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
ltc106-14	pdf	708 KB	178

タイトル	走査型トンネル顕微鏡を使って半導体微細加工を観察する
タイトル (ヨミ)	ソウサガタトンネルケンビキョウヲツカッテハンドウタイビサイカコウヲカンサツスル
著者	福留, 秀暢福留, 秀暢
	長谷川, 繁彦長谷川, 繁彦
	中島, 尚男中島, 尚男
著者 (ヨミ)	フクトメ, ヒデノブ
	ハセガワ, シゲヒコ
	ナカシマ, ヒサオ
内容	研究ノート
公開者	大阪大学低温センター
公開者 (ヨミ)	オオサカダイガクテイオンセンター
掲載誌名	大阪大学低温センターだより
巻	106
開始ページ	14
終了ページ	18
刊行年月	1999-04
ISSN	03874419
NCID	AN00030246
URL	http://hdl.handle.net/11094/8650
言語	日本語
カテゴリ	紀要論文 Departmental Bulletin Paper
カテゴリ	大阪大学低温センターだより / No.106 (1999-04)

著者版フラグ	publisher
NII資源タイプ	紀要論文
ローカル資源タイプ	紀要論文
dcmi資源タイプ	text
DCTERMS.bibliographicCitation	大阪大学低温センターだより.106 P.14-P.18
DC.title	走査型トンネル顕微鏡を使って半導体微細加工を観察する
DC.creator	福留, 秀暢
	長谷川, 繁彦
	中島, 尚男
DC.publisher	大阪大学低温センター
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	1999-04
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/8650
DC.description	研究ノート
citation_title	走査型トンネル顕微鏡を使って半導体微細加工を観察する
citation_author	福留, 秀暢
	長谷川, 繁彦
	中島, 尚男
citation_publisher	大阪大学低温センター
citation_language	日本語
citation_date	1999-04
citation_journal_title	大阪大学低温センターだより
citation_volume	106
citation_firstpage	14
citation_lastpage	18
citation_issn	03874419
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/8650