表面直下の微小欠陥検出 : レーザー弾性波源走査法による表面傷の非接触画像化

林, 高弘; 森, 直樹; 上野, 智丈

光学, 2022, 51(6), 280-280

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Kogaku_51_06_280 pdf なし 691 KB 157 2023.01.27  

論文情報

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タイトル
表面直下の微小欠陥検出 : レーザー弾性波源走査法による表面傷の非接触画像化
著者
NRID
1000030324479 1000030324479
ORCID
0000-0001-6064-4658 0000-0001-6064-4658
researchmap permalink
takahiro_hayashi takahiro_hayashi
Scopus Author ID
37064150200 37064150200
著者名
林, 高弘
NRID
1000000802092 1000000802092
researchmap permalink
7000020478 7000020478
Scopus Author ID
55614094500 55614094500
ORCID
0000-0002-0707-3443 0000-0002-0707-3443
著者名
森, 直樹
著者名
上野, 智丈
内容
林高弘, 森直樹，上野智丈. 表面直下の微小欠陥検出技術 : レーザー弾性波源走査法による表層傷の非接触画像化. 光学. 2022, 51(6), p. 280.
出版者
日本光学会
収録物名
光学
巻(号)
51(6)
ページ
280-280
刊行年月
2022-06-10
言語
日本語
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/89943
PISSN
03896625
NCID
AN00080324
アクセス権
open access
出版タイプ
Accepted Manuscript
カテゴリ
学術雑誌論文 Journal Article