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ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明
04985_Abstract	pdf	なし	173 KB	168	2014.08.04	要旨/Abstract
04985_Dissertation	pdf	なし	7.39 MB	266	2012.09.22	論文/Dissertation

論文情報

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タイトル	シリコンの中性子線照射損傷に関する研究
	シリコン ノ チュウセイシセン ショウシャ ソンショウ ニ カンスル ケンキュウ
著者	NRID 1000030078927 1000030078927 著者名 徳田, 豊 ; トクダ, ユタカ ; Tokuda, Yotaka
学位名	工学博士
学位授与年月日	1980-04-25
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	乙第02429号
学位記番号	04985
言語	日本語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/909
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	博士論文 本文あり / その他 / 1980年度
	博士論文 / その他 / 1980年度

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