半導体へテロ構造におけるトンネル効果およびワニエ・シュタルク効果に関する研究

尾崎, 俊二

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13832_Abstract pdf なし 139 KB 183 2014.06.09 要旨/Abstract  

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タイトル
半導体へテロ構造におけるトンネル効果およびワニエ・シュタルク効果に関する研究
ハンドウタイ ヘテロ コウゾウ ニ オケル トンネル コウカ オヨビ ワニエ・シュタルク コウカ ニ カンスル ケンキュウ
著者
NRID
1000080302454 1000080302454
著者名
尾崎, 俊二 ; オザキ, シュンジ
学位名
博士（工学）
学位授与年月日
1998-03-25
学位授与機関
大阪大学
研究科
工学
専攻
電子工学
学位授与番号
甲第06363号
学位記番号
13832
言語
日本語
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/952
アクセス権
open access
カテゴリ
博士論文 / 工学研究科 / 1997年度
注記
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