A new analytical inductance extraction technique of on-wafer spiral inductors

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
01309495	pdf	275 KB	211

タイトル	A new analytical inductance extraction technique of on-wafer spiral inductors
著者	Shima, Hideki Shima, Hideki
	松岡, 俊匡松岡, 俊匡
	谷口, 研二谷口, 研二
著者の別表記	Matsuoka, Toshimasa
著者の別表記	Taniguchi, Kenji
著者 (ヨミ)	マツオカ, トシマサ
著者 (ヨミ)	タニグチ, ケンジ
公開者	IEEE
掲載誌名	IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
開始ページ	279
終了ページ	283
刊行年月	2004-03
URL	http://hdl.handle.net/11094/14067
権利情報	c2004 IEEE. Personal use of this material is permitted. However, permission to reprint/republish this material for advertising or promotional purposes or for creating new collective works for resale or redistribution to servers or lists, or to reuse any copyrighted component of this work in other works must be obtained from the IEEE..
言語	英語

著者版フラグ	publisher
NII資源タイプ	会議発表論文
ローカル資源タイプ	会議発表論文
日付	2004-03
DCTERMS.bibliographicCitation	IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures P.279-P.283
DC.title	A new analytical inductance extraction technique of on-wafer spiral inductors
DC.creator	Shima, Hideki
	松岡, 俊匡
	谷口, 研二
DC.creator	Matsuoka, Toshimasa
DC.creator	Taniguchi, Kenji
DC.publisher	IEEE
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	英語
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2004-03
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/14067
DC.date" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2004-03
DC.rights	c2004 IEEE. Personal use of this material is permitted. However, permission to reprint/republish this material for advertising or promotional purposes or for creating new collective works for resale or redistribution to servers or lists, or to reuse any copyrighted component of this work in other works must be obtained from the IEEE..
citation_title	A new analytical inductance extraction technique of on-wafer spiral inductors
citation_author	Shima, Hideki
	松岡, 俊匡
	谷口, 研二
citation_publisher	IEEE
citation_language	英語
citation_date	2004-03
citation_journal_title	IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
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