A new analytical inductance extraction technique of on-wafer spiral inductors

Shima, Hideki; Matsuoka, Toshimasa; Taniguchi, Kenji

IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures, 2004, 279-283

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論文情報

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タイトル
A new analytical inductance extraction technique of on-wafer spiral inductors
著者
著者名
Shima, Hideki
NRID
1000080324820 1000080324820
ORCID
0000-0003-3876-2679 0000-0003-3876-2679
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read0068628 read0068628
Scopus Author ID
7402741552 7402741552
著者名
Matsuoka, Toshimasa
NRID
1000020192180 1000020192180
著者名
Taniguchi, Kenji
出版者
IEEE
収録物名
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
ページ
279-283
刊行年月
2004-03
言語
英語
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/14067
アクセス権
open access
権利情報
c2004 IEEE. Personal use of this material is permitted. However, permission to reprint/republish this material for advertising or promotional purposes or for creating new collective works for resale or redistribution to servers or lists, or to reuse any copyrighted component of this work in other works must be obtained from the IEEE..
出版タイプ
Version of Record
カテゴリ
会議発表論文 Conference Paper