表面分析に対する走査型オージェ電子顕微鏡法の基礎的研究

このアイテムのアクセス数:188件（2020-12-04 15:08 集計）

このアイテムへのリンクには次のURLをご利用ください:http://hdl.handle.net/11094/2063

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
05276_要旨	pdf	137 KB	27	要旨/Abstract
05276_論文	pdf	10.4 MB	66	論文/Dissertation

タイトル	表面分析に対する走査型オージェ電子顕微鏡法の基礎的研究
別タイトル	Basic study of scanning Auger electron microscopy for surface analysis
タイトル (ヨミ)	ヒョウメンブンセキニタイスルソウサガタオージェデンシケンビキョウホウノキソテキケンキュウ
著者	一村, 信吾一村, 信吾
著者の別表記	Ichimura, Shingo
著者 (ヨミ)	イチムラ, シンゴ
著者所属研究科	工学
専攻	応用物理学
学位名	工学博士
学位授与年月日	1981-03-25
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401甲第02664号
学位記番号	05276
URL	http://hdl.handle.net/11094/2063
言語	英語
カテゴリ	博士論文本文あり / 工学研究科 / 1980年度
カテゴリ	博士論文 / 工学研究科 / 1980年度

著者版フラグ	ETD
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	表面分析に対する走査型オージェ電子顕微鏡法の基礎的研究
DCTERMS.alternative	Basic study of scanning Auger electron microscopy for surface analysis
DC.creator	一村, 信吾
DC.creator	Ichimura, Shingo
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	英語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/2063
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	1981-03-25
citation_title	表面分析に対する走査型オージェ電子顕微鏡法の基礎的研究
citation_author	一村, 信吾
citation_language	英語
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/2063
citation_date	1981-03-25