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2021-03-01
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05276_要旨
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要旨/Abstract
05276_論文
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10.4 MB
72
論文/Dissertation
論文情報
タイトル
表面分析に対する走査型オージェ電子顕微鏡法の基礎的研究
別タイトル
Basic study of scanning Auger electron microscopy for surface analysis
タイトル (ヨミ)
ヒョウメン ブンセキ ニ タイスル ソウサガタ オージェ デンシ ケンビキョウホウ ノ キソテキ ケンキュウ
著者
一村, 信吾
一村, 信吾
著者の別表記
Ichimura, Shingo
著者 (ヨミ)
イチムラ, シンゴ
著者所属研究科
工学
専攻
応用物理学
学位名
工学博士
学位授与年月日
1981-03-25
学位授与機関
大阪大学
学位授与番号
14401甲第02664号
学位記番号
05276
URL
http://hdl.handle.net/11094/2063
言語
英語
カテゴリ
博士論文 本文あり / 工学研究科 / 1980年度
博士論文 / 工学研究科 / 1980年度
論文詳細を表示
著者版フラグ
ETD
NII資源タイプ
学位論文
ローカル資源タイプ
博士論文 本文あり
博士論文
dcmi資源タイプ
text
DC.title
表面分析に対する走査型オージェ電子顕微鏡法の基礎的研究
DCTERMS.alternative
Basic study of scanning Auger electron microscopy for surface analysis
DC.creator
一村, 信吾
DC.creator
Ichimura, Shingo
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766
英語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI
http://hdl.handle.net/11094/2063
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF
1981-03-25
citation_title
表面分析に対する走査型オージェ電子顕微鏡法の基礎的研究
citation_author
一村, 信吾
citation_language
英語
citation_public_url
http://hdl.handle.net/11094/2063
citation_date
1981-03-25