論理回路のテスト容易化設計に関する研究

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
10248_要旨	pdf	140 KB	35	要旨/Abstract
10248_論文	pdf	3.97 MB	38	論文/Dissertation

タイトル	論理回路のテスト容易化設計に関する研究
タイトル (ヨミ)	ロンリカイロノテストヨウイカセッケイニカンスルケンキュウ
著者	三浦, 幸也三浦, 幸也
著者の別表記	Miura, Yukiya
著者 (ヨミ)	ミウラ, ユキヤ
著者所属研究科	工学
専攻	応用物理学
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	1992-03-25
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401甲第04555号
学位記番号	10248
URL	http://hdl.handle.net/11094/2161
言語	日本語
DOI	info:doi/10.11501/3087936

著者版フラグ	ETD
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	論理回路のテスト容易化設計に関する研究
DC.creator	三浦, 幸也
DC.creator	Miura, Yukiya
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/2161
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	1992-03-25
DC.identifier	info:doi/10.11501/3087936
citation_title	論理回路のテスト容易化設計に関する研究
citation_author	三浦, 幸也
citation_language	日本語
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/2161
citation_date	1992-03-25
citation_doi	info:doi/10.11501/3087936