テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
14989_要旨	pdf	137 KB	14	要旨/Abstract
14989_論文	pdf	479 KB	153	論文/Dissertation

タイトル	テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究
タイトル (ヨミ)	テストセイセイシュホウヲモチイタロンリカイロセッケイニカンスルケンキュウ
著者	市原, 英行市原, 英行
著者の別表記	Ichihara, Hideyuki
著者 (ヨミ)	イチハラ, ヒデユキ
著者所属研究科	工学
専攻	応用物理学
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	1999-11-25
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401甲第07105号
学位記番号	14989
URL	http://hdl.handle.net/11094/2548
言語	日本語
DOI	info:doi/10.11501/3169033
カテゴリ	博士論文本文あり / 工学研究科 / 1999年度
カテゴリ	博士論文 / 工学研究科 / 1999年度

著者版フラグ	ETD
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究
DC.creator	市原, 英行
DC.creator	Ichihara, Hideyuki
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/2548
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	1999-11-25
DC.identifier	info:doi/10.11501/3169033
citation_title	テスト生成手法を用いた論理回路設計に関する研究
citation_author	市原, 英行
citation_language	日本語
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/2548
citation_date	1999-11-25
citation_doi	info:doi/10.11501/3169033