極薄ゲート絶縁膜を有する半導体デバイスの信頼性に関する研究
細井, 卓治
アクセス数:657件（2025-06-19 03:26 集計）
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固定URL: https://hdl.handle.net/11094/257
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閲覧可能ファイル
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説明 |
information |
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19512_Abstract
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pdf
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なし
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132 KB |
243
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2014.06.09
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要旨/Abstract
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19512_Dissertation
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pdf
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なし
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8.59 MB |
10,445
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2012.09.22
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論文/Dissertation
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論文情報
ファイル出力
EndNote Basic出力
Mendeley出力
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| DCTERMS.bibliographicCitation |
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