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ファイル	フォーマット	利用条件	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明
13935_Abstract	pdf	なし	136 KB	73	2014.06.09	要旨/Abstract
13935_Dissertation	pdf	なし	4.58 MB	73	2012.09.22	論文/Dissertation

論文情報

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タイトル	Two-dimensional measurements of electronic and ionic processes on silicon surface
	シリコン表面における光電子及びイオン放出過程の二次元測定
	シリコン ヒョウメン ニ オケル ヒカリ デンシ オヨビ イオン ホウシュツ カテイ ノ ニジゲン ソクテイ
著者	NRID 1000080311629 1000080311629 著者名 中辻, 寛 ; ナカツジ, カン ; Nakatsuji, Kan
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	1998-03-25
学位授与機関	大阪大学
研究科	基礎工学
専攻	物理系
学位授与番号	甲第06466号
学位記番号	13935
言語	英語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/272
DOI	https://doi.org/10.11501/3144049
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	博士論文 本文あり / 基礎工学研究科 / 1997年度
	博士論文 / 基礎工学研究科 / 1997年度

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