New 2-Factor Covering Designs for Software Testing

Kobayashi, Noritaka; Tsuchiya, Tatsuhiro; Kikuno, Tohru

IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences, 2002, E85-A(12), 2946-2949

アクセス数:3252025-07-03 17:16 集計

固定URL: https://hdl.handle.net/11094/27244

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IEICE_E85-A_12_2946 pdf なし 186 KB 124 2014.04.03  

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