Using Satisfiability Solving for Pairwise Testing in the Presence of Constraints

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
IEICE_E95-A_9_1501	pdf	87.4 KB	216

タイトル	Using Satisfiability Solving for Pairwise Testing in the Presence of Constraints
著者	Nanba, Toru Nanba, Toru
	Tsuchiya, Tatsuhiro Tsuchiya, Tatsuhiro
	Kikuno, Tohru Kikuno, Tohru
キーワード等	SAT
	software testing
	pairwise testing
	test set generation
	constraints
公開者	電子情報通信学会
公開者の別表記	The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
公開者 (ヨミ)	デンシ　ジョウホウ　ツウシン　ガッカイ
掲載誌名	IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences
巻	E95-A
号	9
開始ページ	1501
終了ページ	1505
刊行年月	2012-09-01
ISSN	09168508
DOI (出版社版)	info:doi/10.1587/transinf.E95.A.1501
URL	http://hdl.handle.net/11094/27261
関連情報 (references)	http://search.ieice.org/
権利情報	Copyright © 2012 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
言語	英語
カテゴリ	学術雑誌論文 Journal Article

著者版フラグ	publisher
NII資源タイプ	学術雑誌論文
ローカル資源タイプ	学術雑誌論文
dcmi資源タイプ	text
DCTERMS.bibliographicCitation	IEICE TRANSACTIONS on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences.E95-A(9) P.1501-P.1505
DC.title	Using Satisfiability Solving for Pairwise Testing in the Presence of Constraints
DC.creator	Nanba, Toru
	Tsuchiya, Tatsuhiro
	Kikuno, Tohru
DC.publisher	電子情報通信学会
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	英語
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2012-09-01
DC.identifier	info:doi/10.1587/transinf.E95.A.1501
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/27261
DC.subject	SAT
	software testing
	pairwise testing
	test set generation
	constraints
DC.rights	Copyright © 2012 The Institute of Electronics, Information and Communication Engineers
citation_title	Using Satisfiability Solving for Pairwise Testing in the Presence of Constraints
citation_author	Nanba, Toru
	Tsuchiya, Tatsuhiro
	Kikuno, Tohru
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citation_keywords	SAT
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