低速陽電子ビームを用いた欠陥評価技術の高度化および材料評価への応用

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ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
25762_要旨	pdf	4.13 MB	15	要旨/Abstract
25762_論文	pdf	25.9 MB	1,389	論文/Dissertation

タイトル	低速陽電子ビームを用いた欠陥評価技術の高度化および材料評価への応用
タイトル (ヨミ)	テイソク　ヨウデンシ　ビーム　ヲ　モチイタ　ケッカン　ヒョウカ　ギジュツ　ノ　コウドカ　オヨビ　ザイリョウ　ヒョウカ　ヘノ　オウヨウ
著者	前川, 雅樹前川, 雅樹
著者 (ヨミ)	マエカワ, マサキ
キーワード等	陽電子消滅
	低速陽電子ビーム
	陽電子マイクロビーム
	SiO2/SiC界面
	応力腐食割れ
著者所属研究科	工学
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	2013-03-25
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401乙第09761号
学位記番号	25762
URL	http://hdl.handle.net/11094/27540
言語	日本語
カテゴリ	博士論文本文あり / 工学研究科 / 2012年度
カテゴリ	博士論文 / 工学研究科 / 2012年度

著者版フラグ	ETD
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	低速陽電子ビームを用いた欠陥評価技術の高度化および材料評価への応用
DC.creator	前川, 雅樹
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/27540
DC.subject	陽電子消滅
	低速陽電子ビーム
	陽電子マイクロビーム
	SiO2/SiC界面
	応力腐食割れ
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2013-03-25
citation_title	低速陽電子ビームを用いた欠陥評価技術の高度化および材料評価への応用
citation_author	前川, 雅樹
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citation_keywords	陽電子消滅
	低速陽電子ビーム
	陽電子マイクロビーム
	SiO2/SiC界面
	応力腐食割れ
citation_date	2013-03-25