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閲覧可能ファイル 

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	利用開始日	説明
25762_Abstract	pdf	4.13 MB	19	2017.02.22	要旨/Abstract
25762_Dissertation	pdf	25.9 MB	1,544	2014.04.15	論文/Dissertation

論文情報

タイトル	低速陽電子ビームを用いた欠陥評価技術の高度化および材料評価への応用
	テイソク　ヨウデンシ　ビーム　ヲ　モチイタ　ケッカン　ヒョウカ　ギジュツ　ノ　コウドカ　オヨビ　ザイリョウ　ヒョウカ　ヘノ　オウヨウ
著者	著者名 前川, 雅樹 マエカワ, マサキ
キーワード等	陽電子消滅
	低速陽電子ビーム
	陽電子マイクロビーム
	SiO2/SiC界面
	応力腐食割れ
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	2013-03-25
学位授与機関	大阪大学
研究科	工学
学位授与番号	乙第09761号
学位記番号	25762
言語	日本語
ハンドルURL	https://hdl.handle.net/11094/27540
アクセス権	open access
出版タイプ	Version of Record
カテゴリ	博士論文 本文あり / 工学研究科 / 2012年度
	博士論文 / 工学研究科 / 2012年度

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