Theory of the steady-state-photocarrier-grating technique for obtaining accurate diffusion-length measurements in amorphous silicon

Hattori, Kiminori; Okamoto, Hiroaki; Hamakawa, Yoshihiro

PHYSICAL REVIEW B, 1991, 45(3), 1126-1138

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prb_45_3_1126 pdf なし 2.06 MB 436 2012.09.22  

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