Theory of the steady-state-photocarrier-grating technique for obtaining accurate diffusion-length measurements in amorphous silicon

Hattori, Kiminori; Okamoto, Hiroaki; Hamakawa, Yoshihiro

PHYSICAL REVIEW B, 1991, 45(3), 1126-1138

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論文情報

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タイトル
Theory of the steady-state-photocarrier-grating technique for obtaining accurate diffusion-length measurements in amorphous silicon
著者
NRID
1000080228486 1000080228486
researchmap permalink
read0013739 read0013739
著者名
Hattori, Kiminori
NRID
1000090144443 1000090144443
著者名
Okamoto, Hiroaki
NRID
1000010029407 1000010029407
著者名
Hamakawa, Yoshihiro
出版者
The American Physical Society
収録物名
PHYSICAL REVIEW B
巻(号)
45(3)
ページ
1126-1138
刊行年月
1991-01-15
言語
英語
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/3412
PISSN
10980121
NCID
AA11187113
関連情報 (isIdenticalTo)
DOI (出版社版)
https://doi.org/10.1103/physrevb.45.1126
アクセス権
open access
権利情報
Hattori, Kiminori, Okamoto, Hiroaki, Hamakawa, Yoshihiro, Physical Review B, 45, 3, 1126-1138, 1991-01-15. "Copyright 1991 by the American Physical Society."
出版タイプ
Version of Record
カテゴリ
学術雑誌論文 Journal Article