A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance

このアイテムのアクセス数:82件（2018-10-24 05:05 集計）

このアイテムへのリンクには次のURLをご利用ください:http://hdl.handle.net/11094/34564

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
26699_要旨	pdf	216 KB	43	要旨/Abstract

タイトル	A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance
別タイトル	劣化緩和と故障回避による VLSI 高信頼化に関する研究
タイトル (ヨミ)	レッカ　カンワ　ト　コショウ　カイヒ　ニ　ヨル　VLSI　コウシンライカ　ニ　カンスル　ケンキュウ
著者	郡浦, 宏明郡浦, 宏明
著者 (ヨミ)	コウノウラ, ヒロアキ
著者所属研究科	情報科学
専攻	情報システム工学
学位名	博士（情報科学）
学位授与年月日	2014-03-25
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401甲第16869号
学位記番号	26699
URL	http://hdl.handle.net/11094/34564
言語	英語

著者版フラグ	none
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance
DCTERMS.alternative	劣化緩和と故障回避による VLSI 高信頼化に関する研究
DC.creator	郡浦, 宏明
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	英語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/34564
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2014-03-25
citation_title	A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance
citation_author	郡浦, 宏明
citation_language	英語
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/34564
citation_date	2014-03-25