A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance

郡浦, 宏明

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固定URL: https://hdl.handle.net/11094/34564

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26699_Abstract pdf なし 216 KB 164 2014.05.27 要旨/Abstract  

論文情報

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タイトル
A Study on VLSI Reliability Enhancement by Aging Mitigation and Fault Avoidance
劣化緩和と故障回避による VLSI 高信頼化に関する研究
レッカ　カンワ　ト　コショウ　カイヒ　ニ　ヨル　VLSI　 コウシンライカ　ニ　カンスル　ケンキュウ
著者
著者名
郡浦, 宏明 ; コウノウラ, ヒロアキ
学位名
博士（情報科学）
学位授与年月日
2014-03-25
学位授与機関
大阪大学
研究科
情報科学
専攻
情報システム工学
学位授与番号
甲第16869号
学位記番号
26699
言語
英語
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/34564
アクセス権
open access
カテゴリ
博士論文 / 情報科学研究科 / 2013年度
注記
やむを得ない事由があると学位審査研究科が承認したため、全文に代えてその内容の要約を公開しています。全文のご利用をご希望の場合は、大阪大学の博士論文についてをご参照ください。
Only the abstract of the doctoral thesis, instead of the full text, is available due to an unavoidable reason which was accepted by the degree-awarding graduate school. If you would like to read the full text, please refer to Doctoral Theses of Osaka University.