絶縁膜上薄膜結晶シリコン基板(TF-SOI)における素子分離技術とそのロジックLSIへの適用に関する研究

岩松, 俊明

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13536_Abstract pdf なし 118 KB 233 2014.06.20 要旨/Abstract  

論文情報

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タイトル
絶縁膜上薄膜結晶シリコン基板(TF-SOI)における素子分離技術とそのロジックLSIへの適用に関する研究
著者
著者名
岩松, 俊明 ; イワマツ, トシアキ
学位名
博士（工学）
学位授与年月日
1998-02-18
学位授与機関
大阪大学
学位授与番号
乙第07418号
学位記番号
13536
ハンドルURL
https://hdl.handle.net/11094/40868
アクセス権
open access
カテゴリ
博士論文 / その他 / 1997年度
注記
著者からインターネット公開の許諾が得られていないため、論文の要旨のみを公開しています。全文のご利用をご希望の場合は、大阪大学の博士論文についてをご参照ください。
Only the abstract of the doctoral thesis, instead of the full text, is available because consent from the author has not been obtained. If you would like to read the full text, please refer to Doctoral Theses of Osaka University.