BiC-DMOS技術におけるDMOSトランジスタのESD耐性及びホットキャリア耐性の向上に関する研究

畑迫, 健一

アクセス数:1852025-07-06 12:49 集計

固定URL: https://hdl.handle.net/11094/58388

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24579_Abstract pdf なし 690 KB 98 2016.12.07 要旨/Abstract  

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