電子顕微鏡による半導体デバイスの解析技術に関する研究

このアイテムのアクセス数:250件（2022-06-27 01:57 集計）

このアイテムへのリンクには次のURLをご利用ください:http://hdl.handle.net/11094/949

ファイル	フォーマット	サイズ	閲覧回数	説明
21574_要旨	pdf	487 KB	151	要旨/Abstract
21574_論文	pdf	9.43 MB	5,786	論文/Dissertation

タイトル	電子顕微鏡による半導体デバイスの解析技術に関する研究
タイトル (ヨミ)	デンシケンビキョウニヨルハンドウタイデバイスノカイセキギジュツニカンスルケンキュウ
著者	朝山, 匡一郎朝山, 匡一郎
著者の別表記	Asayama, Kyouichirou
著者 (ヨミ)	アサヤマ, キョウイチロウ
著者所属研究科	工学
専攻	マテリアル科学
学位名	博士（工学）
学位授与年月日	2007-09-26
学位授与機関	大阪大学
学位授与番号	14401甲第12221号
学位記番号	21574
URL	http://hdl.handle.net/11094/949
言語	日本語
カテゴリ	博士論文本文あり / 工学研究科 / 2007年度
カテゴリ	博士論文 / 工学研究科 / 2007年度

著者版フラグ	ETD
NII資源タイプ	学位論文
ローカル資源タイプ	博士論文本文あり
ローカル資源タイプ	博士論文
dcmi資源タイプ	text
DC.title	電子顕微鏡による半導体デバイスの解析技術に関する研究
DC.creator	朝山, 匡一郎
DC.creator	Asayama, Kyouichirou
DC.language" scheme="DCTERMS.RFC1766	日本語
DC.identifier" scheme="DCTERMS.URI	http://hdl.handle.net/11094/949
DCTERMS.issued" scheme="DCTERMS.W3CDTF	2007-09-26
citation_title	電子顕微鏡による半導体デバイスの解析技術に関する研究
citation_author	朝山, 匡一郎
citation_language	日本語
citation_public_url	http://hdl.handle.net/11094/949
citation_date	2007-09-26