薄膜Al2O3/SiO2埋め込み絶縁膜層を有する貼り合わせGeOI基板およびGe-n型MISFETの開発

守山, 佳彦

アクセス数:8132026-04-05 12:20 集計

固定URL: https://doi.org/10.18910/52066

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