表面直下の微小欠陥検出 : レーザー弾性波源走査法による表面傷の非接触画像化

林, 高弘; 森, 直樹; 上野, 智丈

光学, 2022, 51(6), 280-280

Number of Access:445（2025-08-14 18:27 Counts）

Identifier to cite or link to this item: https://hdl.handle.net/11094/89943

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Title
表面直下の微小欠陥検出 : レーザー弾性波源走査法による表面傷の非接触画像化
Creator
NRID
1000030324479 1000030324479
ORCID
0000-0001-6064-4658 0000-0001-6064-4658
researchmap permalink
takahiro_hayashi takahiro_hayashi
Scopus Author ID
37064150200 37064150200
CreatorName
林, 高弘
NRID
1000000802092 1000000802092
researchmap permalink
7000020478 7000020478
Scopus Author ID
55614094500 55614094500
ORCID
0000-0002-0707-3443 0000-0002-0707-3443
CreatorName
森, 直樹
CreatorName
上野, 智丈
Description
林高弘, 森直樹，上野智丈. 表面直下の微小欠陥検出技術 : レーザー弾性波源走査法による表層傷の非接触画像化. 光学. 2022, 51(6), p. 280.
Publisher
日本光学会
Source Title
光学
Volume (Issue)
51(6)
Page
280-280
Date of Issued
2022-06-10
Language
Japanese
Handle URL
https://hdl.handle.net/11094/89943
PISSN
03896625
NCID
AN00080324
Access Rights
open access
oaire:version
Accepted Manuscript
Category
学術雑誌論文 Journal Article